注意：關(guān)于光纜與電纜的相關(guān)試驗(yàn)方法類(lèi)共標(biāo)準(zhǔn)的收入在電纜系列標(biāo)準(zhǔn)之內(nèi)，欲了解的請(qǐng)進(jìn)入。

GB/T 7424.2-2002《光纜 總規(guī)范 第2部分 光纜基本試驗(yàn)方法》

GB/T 7424.2-2008《光纜總規(guī)范 第2部分：光纜基本試驗(yàn)方法》(2008/03/31-2008/11/01)

GB/T 7424.20-2021《光纜總規(guī)范 第20部分：光纜基本試驗(yàn)方法 總則和定義》(2021/04/30-2021/11/01) ，部分代替：GB/T 7424.2-2008

GB/T 7424.21-2021《光纜總規(guī)范 第21部分：光纜基本試驗(yàn)方法 機(jī)械性能試驗(yàn)方法》(2021/10/11-2022/02/01)，部分代替：GB/T 7424.2-2008

GB/T 7424.22-2021《光纜總規(guī)范 第22部分：光纜基本試驗(yàn)方法 環(huán)境性能試驗(yàn)方法》(2021/04/30-2021/11/01) ，部分代替：GB/T 7424.2-2008

GB/T 7424.23-2021《光纜總規(guī)范 第23部分：光纜基本試驗(yàn)方法 光纜元構(gòu)件試驗(yàn)方法》(2021/10/11-2022/02/01)，部分代替：GB/T 7424.2-2008

GB/T 7424.24-2020《光纜總規(guī)范 第24部分：光纜基本試驗(yàn)方法 電氣試驗(yàn)方法》 (2020/12/14-2021/07/01) ，部分代替GB/T 7424.2-2008

（GB/T 7424.x的其它部分的標(biāo)準(zhǔn)，見(jiàn)光纜要求類(lèi)）

GB/T 7425.1-1987《光纜的機(jī)械性能試驗(yàn)方法 總則》，被GB/T 7424.1-1998所代替

GB/T 7425.2-1987《光纜的機(jī)械性能試驗(yàn)方法 拉伸》，被GB/T 7424.1-1998所代替

GB/T 7425.3-1987《光纜的機(jī)械性能試驗(yàn)方法 壓扁》，被GB/T 7424.1-1998所代替

GB/T 7425.4-1987《光纜的機(jī)械性能試驗(yàn)方法 沖擊》，被GB/T 7424.1-1998所代替

GB/T 7425.5-1987《光纜的機(jī)械性能試驗(yàn)方法 反復(fù)彎曲》，被GB/T 7424.1-1998所代替

GB/T 7425.6-1987《光纜的機(jī)械性能試驗(yàn)方法 扭轉(zhuǎn)》，被GB/T 7424.1-1998所代替

GB/T 7425.7-1987《光纜的機(jī)械性能試驗(yàn)方法 曲撓》，被GB/T 7424.1-1998所代替

GB/T 7425.8-1987《光纜的機(jī)械性能試驗(yàn)方法 鉤掛》，被GB/T 7424.1-1998所代替

GB/T 7425.9-1987《光纜的機(jī)械性能試驗(yàn)方法 彎折》，被GB/T 7424.1-1998所代替

GB/T 7425.10-1987《光纜的機(jī)械性能試驗(yàn)方法 卷繞》，被GB/T 7424.1-1998所代替

GB/T 8405.1-1987《光纜的環(huán)境性能試驗(yàn)方法 總則》，被GB/T 7424.1-1998所代替

GB/T 8405.2-1987《光纜的環(huán)境性能試驗(yàn)方法 溫度循環(huán)》，被GB/T 7424.1-1998所代替

GB/T 8405.3-1987《光纜的環(huán)境性能試驗(yàn)方法 充氣》，被GB/T 7424.1-1998所代替

GB/T 8405.4-1987《光纜的環(huán)境性能試驗(yàn)方法 滲水》，被GB/T 7424.1-1998所代替

GB/T 8405.5-1987《光纜的環(huán)境性能試驗(yàn)方法 低溫下沖擊》，被GB/T 7424.1-1998所代替

GB/T 8405.6-1987《光纜的環(huán)境性能試驗(yàn)方法 低溫下卷繞》，被GB/T 7424.1-1998所代替